隨著粉體技術(shù)的發(fā)展,對(duì)粒度分析儀的性能要求在逐步的提高,特別是粒度儀的量程要求越來(lái)越寬。測(cè)量下限要求達(dá)到幾百甚至幾十個(gè)納米,測(cè)量上限要求達(dá)到一千甚至幾千微米。
顆粒越細(xì),散射光的角度越小,微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內(nèi)都有分布。為了拓展儀器的測(cè)量下限。需要有非常規(guī)的光學(xué)設(shè)計(jì)。顆粒越小,分布在360度空間范圍的散射光光強(qiáng)差越小,當(dāng)顆粒小到一定極限,光強(qiáng)差將小得幾乎難以被分辨出來(lái)。這時(shí)就到了激光粒度儀的測(cè)量下限了。光學(xué)設(shè)計(jì)上的障礙和散射光本身的特性決定了常規(guī)激光粒度儀的測(cè)量下限一般在0.02微米左右。當(dāng)顆粒較大時(shí),同樣也會(huì)遇到技術(shù)困難。大顆粒的散射角度很小,不容易分辨和測(cè)量。要想有效分辨大顆粒的光強(qiáng)分布??梢院?jiǎn)單的拉長(zhǎng)聚焦鏡頭的焦距(例如500甚至1000毫米以上),但是焦距大將導(dǎo)致激光粒度儀的體積大幅增加,且非常不便于小顆粒的大角度散射光探測(cè)。同時(shí)對(duì)鏡頭的加工精度要求也會(huì)更高。這個(gè)技術(shù)難點(diǎn)使得常規(guī)設(shè)計(jì)的激光粒度儀的真實(shí)測(cè)量上限很難超過(guò)1200微米。
粒度分析儀是指通過(guò)顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來(lái)分析顆粒大小的儀器。激光粒度儀作為一種新型的粒度測(cè)試儀器,已經(jīng)在粉體加工、應(yīng)用與研究領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
粒度分析儀采用散射原理和匯聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無(wú)縫銜接測(cè)試方法,保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。*的濕法循環(huán)分散系統(tǒng),保證顆粒保證測(cè)試過(guò)程中無(wú)顆粒沉積現(xiàn)象,測(cè)試排水后無(wú)廢液積存現(xiàn)象,保證了第二次測(cè)試精度,使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠。
主要特點(diǎn):
1)直接迅速的粒度測(cè)量;
2)動(dòng)態(tài)粒形分析功能;
3)免標(biāo)定;
4)遙控操作;
5)警報(bào)信號(hào);
6)不受振動(dòng)影響;
7)防塵;
8)高強(qiáng)鑄件。
適用范圍:
儀器適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè),尤其對(duì)于在液體中會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)、形狀變化及損失的如中草藥、磁性材料等。